● 涂镀层厚度分析● 各层合金成分分析
XTD是一款专用于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析的全自动光谱仪。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
性能优势
● 搭载微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.002mm² | ● 可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl（17）- 铀U（92），涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92），涂镀层最低检出限：0.005μm |
● 拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测， 可测凹槽深度范围：0-90mm | ● 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 |
● 核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度） | ● 标配4准直器自由切换 |
● 配备全自动可编程移动平台，可实现无人值守，对成百上千个样品进行全自动检测 | ● 配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度小于10% |
