● 涂镀层厚度分析● 各层合金成分分析
下照式微聚焦多准型，搭载先进的EFP算法软件和微光聚集技术，配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低，仪器寿命更长，性能更稳定。
性能优势
● 微聚焦加强型X射线装置 可测试各类极微小的样品，即使检测面积为0.002mm²的样品也可轻松、精准检测 | ● 微米级移动精度 高精密XY移动滑轨，实现多点位、多样品的精准位移和同时检测，移动精度可达微米级，轻松应对极微小样品检测 |
● 变焦装置及位置补偿算法 可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm | ● 先进的解谱技术 减少能量相近元素的干扰，降低检出限 |
● 自主研发的EFP算法 多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可精准测量 |
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技术参数
型号 | XTU-4C |
测量元素范围 | Cl（17）- U（92） |
涂镀层分析范围 | Li（3）- U（92） |
EFP算法 | 标配 |
分析软件 | 同时分析23个镀层，24种元素 |
不同层相同 元素检测能力 | 标配 |
软件操作 | 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 |
X射线装置 | 微聚焦加强型射线管 |
信号及接收 | Pro-SD处理器+PC |
准直器 | Φ0.05mm；Φ0.1mm；Φ0.2mm；□0.03*0.2mm；四准直器自动切换 |
微光聚焦技术 | 最近测距光斑扩散度小于10% |
测量距离 | 具有距离补偿功能，可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm |
样品观测 | 1/2.7”彩色CCD，变焦功能 |
对焦方式 | 高敏感镜头，手动对焦 |
放大倍数 | 25X-150X |
仪器尺寸 | 545mm*380mm*430mm |
样品舱尺寸 | 深400mm×宽340mm×高180mm |
样品台移动 | 高精密XY手动滑轨 |
可移动范围 | 50mm*50mm |
仪器重量 | 48KG |
其他附件 | 电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、标准片、电镀液测量杯（选配） |
X射线标准 | DIN ISO 3497、ASTM B 568 |
