型号 | XAU |
涂镀层分析 | 可同时分析23个镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析，可检测Li（3）- U（92）涂镀层90种元素 |
成分分析 | 用于地矿、合金及贵金属等物质中S(16)/Al（13）-U（92）的77/80种元素成分分析 |
EFP算法 | 标配 |
软件操作 | 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 |
分析时间 | 5-300秒 |
信号及接收 | 标配Si-Pin半导体探测器，可选配DPP+FAST SDD |
X射线装置 | 微聚焦射线管 |
准直器 | Φ0.5mm；Φ0.3mm；Φ0.2mm；□0.1*0.3mm； 四准直器可选，Φ0.3mm为标配（也可另外定制） |
微光聚焦技术 | 最近测距光斑扩散度小于10% |
测量距离 | 具有距离补偿功能，可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm |
对焦方式 | 高敏感镜头，手动对焦 |
仪器尺寸 | 545mm*380mm*435mm |
样品腔高度 | 210mm |
样品台移动 | 高精密XY手动滑轨 |
可移动范围 | 50mm*50mm |
仪器重量 | 48KG |
其他附件 | 电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、标准片、电镀液测量杯（选配） |
X射线标准 | DIN ISO 3497、ASTM B 568 |
