多导毛细聚焦X荧光光谱仪 XAD-μ
XAD-μ是一款专用于超小测量点或纳米级涂层的分析仪器。可用于柔性电路板、金手指、连接器、引线框架、传感器、IC载板等领域的超微小区域检测。
性能优势
● 小至10μm的测量直径
● 更高的测试精度
● 高于普通光谱仪1000倍以上的聚焦光源
● 更好的测试稳定性
● 更低的检出限
典型应用领域
柔性电路板(FPC/PCB)主要测试镍钯金、镀层及合金成分含量
传感器芯片传感器芯片铁镍合金的成分和厚度分析
引线框架主要测试镀层及合金成分含量镀层包含镍钯金、镀银、镀锡的厚度检测
IC封装载板主要测试镀层及合金成分含量镀层包含镍钯金的厚度检测
