● 涂镀层分析
● 新材料检测
● 地质地矿检测
● 贵金属检测
● 合金成分分析
● P含量检测
匠心打造的新一代设计，是一款独具科技感的一机多用型光谱仪，采用先进的EFP算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列，专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区ROHS检测及全元素分析，每一个功能都是最专业的。
性能优势
● 微聚焦X射线装置 搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.03mm² | ● 自主研发的EFP算法 Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精确测量 |
● 变焦装置及位置补偿算法 可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm | ● 一机多用、精检精测 各装置高度集成，不分散、不弱化光强，能够完全兼顾ROHS、全元素分析、各种大小异形涂镀层样品的快速精准检测 |
技术参数
型号 | XAU-4CS |
涂镀层分析 | 可同时分析23个镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析，可检测Li（3）- U（92）涂镀层90种元素 |
RoHS分析 | 有害元素检测（RoHS、卤素） |
成分分析 | 用于地矿、合金及贵金属等物质中Al（13）-U（92）的80种元素成分分析 |
EFP算法 | 标配 |
软件操作 | 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 |
分析时间 | 1-200秒 |
信号及接收 | DPP+FAST SDD |
X射线装置 | 微聚焦加强型射线管 |
准直器 | 标配□0.1*0.3mm;φ0.3mm;φ1.2mm;φ3mm（可选φ0.2mm;φ0.5mm;φ1.2mm;φ3mm） （四准直器自动切换） |
微光聚焦技术 | 最近测距光斑扩散度小于10% |
滤光片 | 集成嵌入式多滤光片切换装置 |
测量距离 | 具有距离补偿功能，可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm |
对焦方式 | 高敏感镜头，手动对焦 |
仪器尺寸 | 545mm*380mm*430mm |
样品腔高度 | 210mm |
样品台移动 | 高精密XY手动滑轨 |
可移动范围 | 50mm*50mm |
仪器重量 | 50KG |
其他附件 | 电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、RoHS标准片、标准片、电镀液测量杯（选配） |
X射线标准 | DIN ISO 3497、ASTM B 568 |
