● 涂镀层厚度分析
● 各层合金成分分析
所属分类：涂镀层厚度
关键词：涂镀层测厚 成分分析
高性价比上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。
性能优势
● 上照式设计，适用性强 实现可对超大工件、异形凹槽件、密集型多点测试进行快、准、稳高效率测量 | ● 前沿检测技术 高集成垂直光路系统，采用先进的解谱技术和影像识别算法 |
● 可靠的高性能 测试精度、稳定性高，在提供高质量的同时减少浪费，消除死时间 | ● 使用寿命长 模块化设计，聚焦节能，搭载自动休眠模式，延长使用寿命 |
● 变焦装置及位置补偿算法 可对各种异形凹槽件进行无损检测，可测凹槽深度范围：0-90mm |
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技术参数
型号 | XD-1000 |
测量元素范围 | CI(17)/AI(13)-U(92) |
涂镀层分析范围 | Li(3)-U(92) |
算法 | 自主研发的EFP算法 |
分析软件 | 同时分析5个镀层、10种元素(可选配同时分析23个镀层、24种元素) |
不同层相同元素检测能力 | 标配 |
软件操作 | 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 |
分析时间 | 1-200s |
X射线装置 | 微聚焦射线管(可选配微聚焦加强型射线管) |
准直器 | □0.1*0.3mm/Ф0.1mm/Ф0.2mm/Ф0.3mm/ □0.03*0.2mm/Ф0.5mm(六选一) |
微光聚焦技术 | 最近测距光斑扩散度小于10% |
测量距离 | 具有距离补偿功能，可改变测量距离测量凹凸异形样品，可测凹槽深度范围：0-90mm |
样品观测 | 1/2.7”彩色CCD，变焦功能 |
对焦方式 | 无感自动对焦(可选配激光对焦)精确定位 |
信号及接收 | Pro-SD处理器+PC/DPP+FAST SDD(选配) |
样品台移动方式 | 手动XY滑台(可选配全自动高精密移动平台) |
仪器尺寸 | 550mm*760mm*635mm |
仪器重量 | 120KG |
X射线标准 | DINISO 3497、ASTM B568 |
