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日本Advantest公司及T2000测试系统产品介绍
2026-07-31
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日本Advantest总部设立于日本,是全球头部半导体自动测试设备研发制造厂商,深耕芯片测试领域多年,搭建覆盖全球研发、生产与技术服务的完整体系。企业面向系统级芯片、功率器件、图像传感器、存储芯片等各类半导体产品提供全流程测试解决方案,设备覆盖实验室研发验证、晶圆测试、封装终测全产业链场景,依靠模块化可扩展硬件架构、高速信号处理与多通道并行测试核心技术,持续适配车载芯片、人工智能算力芯片、消费电子主控芯片等前沿器件的测试需求,同时配套专属测试开发软件与云端数据管理平台,为全球晶圆厂、封装测试企业、芯片设计公司提供稳定可靠的测试设备与配套技术服务。


 T2000 是日本Advantest主打模块化通用 SoC 与功率模拟测试平台,整条产品线分为风冷紧凑型机型与液冷高产能机型两大分支,初代 T200 基础机型采用多插槽可扩展机箱设计,适配中小规模研发实验室,搭载多款数字、电源、模拟信号适配模块,可完成 MCU、基础主控芯片的常规功能与直流参数测试;T200 Ai 为初代风冷标准化机型,机箱插槽数量精简,整机无需配套水冷管路,占地空间更小,适合多品类小批量芯片的灵活测试,搭配中速数字 I/O 模块满足消费类基础芯片测试需求;升级款 T200 AiR 在风冷架构基础上提升单机箱测试资源密度,优化电源模块输出能力,可兼顾电源管理芯片与图像传感器基础验证;全新一代 T200 AiR2X 作为风冷旗舰机型,将单机测试资源容量翻倍,完全兼容前代所有测试程序与硬件模块,延续无冷水机的轻量化部署特性,适配高混合品类、中小批量量产产线,同时适配老旧测试设备替换升级场景;T200 EX 系列属于液冷高端平台,拥有更多机箱插槽,可搭载超高速数字模块、大电流功率模块与专用图像信号处理引擎,通道拓展上限更高,支持多颗芯片同步并行测试,面向车载主控、高端图像传感器、大功率电源芯片的大批量量产场景;整套平台拥有丰富可选功能模块,包含不同速率数字通道板卡、多规格器件电源模块、高压混合信号模块、图像采集处理引擎以及各类高精度参数测量单元,工程师能够根据芯片类型、测试速率需求、产线产能规模与场地条件搭配风冷或液冷对应机型,广泛应用消费电子 SoC、车载芯片、CMOS 图像传感器、功率半导体、物联网主控芯片的研发验证与封装量产测试工作。



日本Advantest公司主要产品型号如下,欢迎咨询选购:



一、SoC 系统级芯片全自动测试机(ATE)

V93000 EXA Scale 旗舰 SoC 测试平台

V93000 EXA CX 配置机型

V93000 EXA XS 紧凑型机型

Pin Scale 5000B 高速数字测试模块(V93000 选配)

Wave Scale RF20ex 射频测试子板

T2000 AiR2X 风冷型 SoC / 功率模拟测试系统

T2000 经典模块化通用测试主机

T2000 1GDM 高速数字模块

T2000 8Gbps 高速数字测试模块

7038 高并行系统级测试 & 老化一体平台


二、存储器专用测试设备

T5801 超高速 DRAM 测试系统(支持 GDDR7/LPDDR6/DDR6)

T5830 高速存储测试主机

T5503HS 高性能存储器测试设备

TS801 存储测试配套机柜

TS230 存储测试扩展单元

M5241 AI 高端存储器件自动化分选机


三、功率半导体宽禁带器件测试平台

MTe 统一可扩展功率半导体测试平台

MTe 高压大电流功率测试模块

SiC/GaN 动态短路专用测试单元


四、芯片自动化分选机(Handler)

HA1200 晶圆级测试分选机

M6245 封装器件高速分选机

M4871 通用半导体分选设备


五、晶圆探针台及晶圆测试配套设备

EVA100 晶圆探针测试平台

B6700 晶圆级验证测试单元


六、扫描电子显微镜(量测 & 缺陷检测 SEM)

MVM-SEM 系列多视角量测扫描电镜

光罩图案高精度量测 SEM 设备

晶圆纳米形貌缺陷复检 SEM 系统


七、射频 & 高速电子测量仪器

R3755A 电路板网络分析仪

R3760 矢量网络分析仪

EVA100 综合射频测量系统

AirLogger 无线数据记录仪

Q7606A/Q7606B 光啁啾测试模块

D3186 高速脉冲码型发生器


八、老化测试系统(Burn-in)

多通道高温动态老化测试机柜

存储芯片并行老化筛选设备


九、测试接口配件(探针卡、负载板)

定制化半导体探针卡 Probe Card

Direct Probe™直连式晶圆测试负载板

测试机适配转换套件 Change Kit


十、软件与云端测试解决方案

Advantest SiConic 芯片验证一体化平台

ACS Gemini 数字孪生测试仿真软件

SmarTest 8 测试程序编译控制软件

RTDI 实时测试数据分析平台


十一、光子芯片测试配套设备

硅光芯片高速光电综合测试模块

激光二极管参数测试单元




其他注意事项:

更详细的技术资料需通过提供项目详情获取,欢迎咨询。

我公司自营进出口权,直接海外采购,国外现货航空件几天就能交到您的手中。


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