新闻动态
News trends
0755-26738591
服务时间
日本Advantest公司及存储测试机产品介绍
2026-07-31
93

日本Advantest总部设立于日本,是全球领先的半导体自动测试设备研发制造企业,长期深耕芯片测试测量技术领域,面向存储芯片、系统级芯片、射频芯片等各类半导体器件提供全套测试解决方案。企业拥有完整的研发与全球服务网络,持续跟进存储、算力芯片技术迭代,打造兼顾实验室研发验证与晶圆量产、封装终测场景的测试平台,同时配套探针台、电子显微镜等半导体相关设备,依靠高并行测试能力、高速信号处理技术,帮助芯片制造企业完成器件性能筛查与良率提升,服务通信、人工智能、车载电子、数据中心等多个产业链。


Advantest 存储测试机拥有多条差异化平台产品线,T5800 系列作为面向下一代高速存储的旗舰平台,其中 T5801 主打超高速 DRAM 器件测试,适配新一代图形处理器显存、移动高速内存产品研发与量产,具备领先的信号传输测试能力,能够满足前沿高速存储器件的验证需求;T5835 继承成熟平台架构,兼顾 NAND 闪存与多款 DRAM 产品测试,支持晶圆测试与封装终测场景,依靠大并行测试通道提升量产吞吐量,搭载实时时序校正功能改善器件测试良率;T5833 与 T5833ES 属于多功能通用机型,同时适配移动终端 DRAM 与闪存芯片,紧凑型版本适合研发实验室开展器件评估;T5851 以及 T5851ES 面向中小容量存储器件,平衡设备占地面积与基础测试需求;T5500 系列中的 T5503HS2 专注高带宽内存、服务器内存与移动高速 DRAM 测试,拥有海量并行测试通道,内置高性能图形发生器,可完成复杂存储功能测试,T5511 定位中端存储量产测试场景;T5200 系列包含 T5221、T5230,属于轻量化小型测试设备,适合闪存芯片基础评估与小批量试产;配套还有 B6700 系列存储器老化测试设备与 H5620 系列高温老化系统,能够完成存储芯片加速寿命测试,整套设备全线支持灵活选配测试通道、电源模块与接口组件,工程人员可以根据存储器件类型、测试速率要求、产线产能规模以及研发或量产场景挑选对应机型,广泛应用于闪存、各类 DRAM、高带宽存储芯片的研发验证与规模化生产测试工作



日本Advantest公司主要产品型号如下,欢迎咨询选购:



一、SoC 系统级芯片全自动测试机(ATE)

V93000 EXA Scale 旗舰 SoC 测试平台

V93000 EXA CX 配置机型

V93000 EXA XS 紧凑型机型

Pin Scale 5000B 高速数字测试模块(V93000 选配)

Wave Scale RF20ex 射频测试子板

T2000 AiR2X 风冷型 SoC / 功率模拟测试系统

T2000 经典模块化通用测试主机

T2000 1GDM 高速数字模块

T2000 8Gbps 高速数字测试模块

7038 高并行系统级测试 & 老化一体平台


二、存储器专用测试设备

T5801 超高速 DRAM 测试系统(支持 GDDR7/LPDDR6/DDR6)

T5830 高速存储测试主机

T5503HS 高性能存储器测试设备

TS801 存储测试配套机柜

TS230 存储测试扩展单元

M5241 AI 高端存储器件自动化分选机


三、功率半导体宽禁带器件测试平台

MTe 统一可扩展功率半导体测试平台

MTe 高压大电流功率测试模块

SiC/GaN 动态短路专用测试单元


四、芯片自动化分选机(Handler)

HA1200 晶圆级测试分选机

M6245 封装器件高速分选机

M4871 通用半导体分选设备


五、晶圆探针台及晶圆测试配套设备

EVA100 晶圆探针测试平台

B6700 晶圆级验证测试单元


六、扫描电子显微镜(量测 & 缺陷检测 SEM)

MVM-SEM 系列多视角量测扫描电镜

光罩图案高精度量测 SEM 设备

晶圆纳米形貌缺陷复检 SEM 系统


七、射频 & 高速电子测量仪器

R3755A 电路板网络分析仪

R3760 矢量网络分析仪

EVA100 综合射频测量系统

AirLogger 无线数据记录仪

Q7606A/Q7606B 光啁啾测试模块

D3186 高速脉冲码型发生器


八、老化测试系统(Burn-in)

多通道高温动态老化测试机柜

存储芯片并行老化筛选设备


九、测试接口配件(探针卡、负载板)

定制化半导体探针卡 Probe Card

Direct Probe™直连式晶圆测试负载板

测试机适配转换套件 Change Kit


十、软件与云端测试解决方案

Advantest SiConic 芯片验证一体化平台

ACS Gemini 数字孪生测试仿真软件

SmarTest 8 测试程序编译控制软件

RTDI 实时测试数据分析平台


十一、光子芯片测试配套设备

硅光芯片高速光电综合测试模块

激光二极管参数测试单元



其他注意事项:

更详细的技术资料需通过提供项目详情获取,欢迎咨询。

我公司自营进出口权,直接海外采购,国外现货航空件几天就能交到您的手中。

在线QQ
17162663706184878
微信公众号
17162563969721158
17162663706184878
在线微信
391324f4-7af7-4300-821b-60378f5be384
ri2
电话
电话:0755-26738591
ri3
邮箱
E-mail:sales@octsources.com
weibo 0fe2f0ff-adba-4d93-b8e3-bef2a756071b
微博
ri4
留言