Bruker Corporation 是全球领先的科学仪器制造商，1960年成立于德国，总部位于美国比勒瑞卡（Billerica），在瑞士设有重要研发中心。公司专注于 高端分析仪器，产品覆盖纳米表面科学、分子光谱、质谱和磁共振技术，以 原子力显微镜（AFM） 和 X射线仪器 闻名。
Dimension Icon 是 Bruker 的 旗舰级原子力显微镜（AFM），提供 纳米级表面形貌、力学性能和电学特性 测量，广泛应用于材料科学、半导体、生物研究和纳米技术。
| 型号 | 核心功能 | 分辨率 | 独特技术 | 典型应用 |
|---|---|---|---|---|
| Dimension Icon | 基础AFM成像（接触/轻敲模式） | 横向<0.5 nm，纵向<0.1 nm | ScanAsyst® 自动优化技术 | 材料表面形貌、粗糙度分析 |
| Dimension Icon+ | 增强版，支持PeakForce Tapping® 和纳米力学映射 | 横向<0.5 nm | PeakForce QNM®（定量纳米力学测量） | 聚合物、生物样本的弹性/粘附性 |
| Dimension Icon-R | 电学特性扩展（导电AFM、开尔文探针力显微镜KPFM） | 横向<1 nm | NanoElectrical Suite（电学测量套件） | 半导体器件、太阳能电池分析 |
| Dimension Icon-S | 高温/低温环境控制（-35°C ~ +250°C） | 横向<1 nm | 闭环扫描器，温控样品台 | 相变材料、纳米热学研究 |
| Dimension Icon-FIB | 聚焦离子束（FIB）集成，支持原位纳米加工与AFM联用 | 横向<1 nm | FIB-AFM 协同工作流程 | 纳米器件制备与表征 |
PeakForce Tapping®：
取代传统轻敲模式，直接控制探针-样品作用力（低至 10 pN），减少样品损伤。
ScanAsyst® 自动优化：
智能调节扫描参数，无需手动设置。
NanoElectrical Suite：
支持 导电AFM（C-AFM）、开尔文探针（KPFM）、压电力显微镜（PFM）。
环境控制：
可选 液体池、温控模块、真空腔，适应生物活体或极端条件测试。
探针类型：
SCANASYST-AIR（标准硅探针）
RTESPA-300（高分辨率探针，针尖半径<8 nm）
PFQNE-AL（PeakForce 定量纳米力学探针）
软件模块：
NanoScope Analysis：3D形貌重建与数据分析。
NanoMan®：支持纳米刻蚀与操纵。
联用技术：
与 拉曼光谱（AFM-Raman） 或 光学显微镜 联用。
半导体工业：
晶体管栅极氧化层厚度测量、缺陷定位。
生物医学：
细胞膜力学性能、蛋白质相互作用力映射。
能源材料：
锂电池电极表面退化分析、钙钛矿太阳能电池形貌表征。
二维材料：
石墨烯、MoS₂ 的层数识别与电学性质测量。
Dimension Icon 系列 是 Bruker AFM 技术的集大成者，通过 模块化设计 满足从基础形貌到多功能物性测量的需求。
全系支持 自动化操作 和 高环境适应性，是纳米科学研究与工业质量控制的理想工具。
（注：1 nm = 10⁻⁹ m；pN = 皮牛顿，10⁻¹² N。）
其他注意事项：
更详细的技术资料需通过提供项目详情获取，欢迎咨询。
我公司自营进出口权，直接海外采购，国外现货航空件几天就能交到您的手中。
