X-123 系列 是基于 硅漂移探测器（SDD） 或 CdTe/CZT 探测器 的紧凑型 X 射线能谱仪，集成高性能数字脉冲处理器，适用于实验室和便携式应用。

1. X-123 Fast SDD

探测器类型：硅漂移探测器（SDD）

能量分辨率：<125 eV @ 5.9 keV (Mn-Kα)

有效面积：25 mm² 或 50 mm²（可选）

制冷方式：电制冷（Peltier），无需液氮

应用：快速 XRF 分析、元素成分检测

2. X-123 CdTe

探测器类型：碲化镉（CdTe）半导体

能量范围：5–150 keV（适合高能 X 射线和伽马射线）

能量分辨率：<200 eV @ 5.9 keV

特点：室温工作，适用于高能谱分析（如核材料检测）

3. X-123 CZT

探测器类型：碲锌镉（CZT）半导体

能量范围：10–500 keV

特点：高灵敏度，用于伽马射线能谱测量（如放射性同位素识别）

4. X-123 Complete

全集成系统：包含探测器、数字脉冲处理器（DP5）及软件

通信接口：USB 或 Wi-Fi（可选）

配套软件：DPPMCA（实时能谱分析）

5. 可选配件

X-Ray 源：微型 X 射线管（可选配靶材：Ag、Mo 等）

准直器：优化光束聚焦

样品台：自动化样品定位系统

典型应用场景

材料科学：合金成分分析、镀层厚度测量

环境监测：土壤重金属检测

安全筛查：爆炸物或毒品识别

太空探测：卫星搭载的 X 射线光谱仪

其他注意事项：

更详细的技术资料需通过提供项目详情获取，欢迎咨询。

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